Mestrado: Caracterização geoelétrica de alvos rasos no Sítio Controlado de Geofísica Rasa-II - IAG/USP através do uso de resistividade capacitiva

Data: 
01/11/2017 - 09:00
Local: 
Auditório 1 do IAG (Rua do Matão, 1226, Cidade Universitária)


Defesa de dissertação de mestrado
Aluno: Vitor Lucas Sobottka Cavenaghi
Programa: Geofísica
Título: Caracterização geoelétrica de alvos rasos no Sítio Controlado de Geofísica Rasa-II - IAG/USP através do uso de resistividade capacitiva

Comissão julgadora
1) Prof. Dr. Vagner Roberto Elis - IAG/USP
2) Prof. Dr. Otávio Coaracy Brasil Gandolfo - IPT/São Paulo-SP
3) Prof. Dr. José Domingos Faraco Gallas- IGc/USP
 
 
Resumo
O presente trabalho teve como objetivo determinar as vantagens e limitações do método geofísico de resistividade capacitiva na identificação de materiais enterrados de diferentes tamanhos e propriedades físicas e em diversas profundidades, localizados no Sítio Controlado de Geofísica Rasa II (SCGR-II), em frente ao IAG-USP. Para isso, a COMGAS, em parceria com o IAG-USP adquiriu o equipamento OhmMapper, possibilitando a aquisição de dados através do método capacitivo. Anteriormente à aquisição dos dados de campo, foram adquiridos os valores de resistividade aparente referentes ao background da área, para então realizar a instalação dos alvos. Após a instalação do sítio controlado, determinou-se a melhor técnica de aquisição em relação ao objetivo proposto, mostrando-se a técnica de aquisição contínua, com marcação de posição a cada 10m a mais adequada para o projeto em questão. Com a definição da melhor técnica de aquisição de dados, foi realizada a modelagem sintética dos alvos para que os resultados fossem confrontados com os obtidos em campo; a modelagem demonstrou que o método sintético utilizado (descrito no item 6.2) é capaz de definir contrastes de resistividade em profundidades inferiores a 0,8m e em alvos que apresentem dimensões de no mínimo 10cm. Para a avaliação do método capacitivo, realizou-se após a aquisição dos dados, uma análise 2D e 3D das anomalias. A análise dos dados reais demonstrou boa correlação com os ensaios sintéticos, exceto para alvos metálicos que apresentaram forte anomalia condutiva, enquanto que os mesmos alvos apresentaram anomalias resistivas no modelo criado. A análise das seções 2D do SCGR-II demonstrou boa resposta do método capacitivo utilizado para a caracterização geoelétrica de tambores de plástico cheios de água, tambores de aço vazios , cano metálico e tubos de cerâmica e PVC com água – anomalias condutivas, tambores de plástico vazios, manilhas de concreto de grande diâmetro e vazias, caixa de areia acoplada a tubo vertical de PVC, vasos de cerâmica vazios, caixa com material cerâmico, caixa com brita de granito, tubos de PEAD vazios e tubos de polietileno e PVC de pequeno diâmetro e em até 0,5m de profundidade – anomalias resistivas. Os dados 3D sumarizam as anomalias apresentadas nas diversas seções 2D, auxiliando na visualização dos contornos condutivos e resistivos do SCGR-II. Recomenda-se que a caracterização dos alvos pontuais seja, sempre que possível, realizada com o uso mútuo de no mínimo dois equipamentos distintos em suas técnicas e métodos, de forma a se evitar a interpretação precipitada das anomalias observadas e a reduzir os erros implícitos a interpretação, garantindo boa correlação com os dados diretos de campo.

Palavras Chave: OhmMapper, Resistividade Capacitiva, SCGR-II.